寶石光性 特征非均質體 寶石級螢石特征 藏有寶石的地質特征 非均質體晶體可分為 ... 軸方向。中級晶族寶石只有一個光軸 方向,Cheng 為一軸晶;低級晶族寶石有兩個光軸方向,稱 Wei 二軸晶。自然光在非均質體中的傳播2 ...

( 19:39:09) 轉載 標簽: 雜談 分類: 關于巖石 巖石磨成厚約0.03mm 的薄片,置于偏光顯微鏡下觀察,我們可以發(fā)現(xiàn)有的礦物是透明 的(絕大多數(shù)硅酸鹽.碳酸鹽礦物和部分氧化物),有的礦物是不透明的(金屬硫化物及部分 氧化物).鑒定不透明礦物需要 ...

3.垂直光軸切面干涉圖的應用 （1）確定軸性和切面方向 根據(jù)干涉圖的圖像特點,可以確定為一軸晶垂直光軸的切面。（2）光性 符號的測定 一軸晶光性符號正負的確定應依據(jù)兩個原則：①N e ＞N o,為一軸正 晶（N e =N g ）；N e ＜N o,為一軸負晶 ...

（參考答案：載玻璃、礦片、蓋玻璃、加拿大樹膠、0.03mm、石英的干涉色） 10、二軸晶垂直光軸切面干涉圖的用途有,和。 （參考答案：確定軸性和切面方向、測定光性符號、估計光軸角大?。?11、礦物在薄片中的突起高低取決于,愈大,突起,愈小

應用：確定軸性和切面方向,根據(jù)圖像特點,可確定為一軸晶垂直光軸的切 測定光性符號 Ne=Ng 正光性 Ne=Np 3、一軸晶平行OA切面干涉圖圖像特征及其應用。 (p99100) 特征：平行光軸切面的干涉圖：當光軸方向與上下偏光鏡振動方向之一平行時,為一 ...

垂直光軸切面B.平行光軸切面 斜交光軸切面13. 礦物的折色率為1.528,該礦物為： 無突起14. 當?shù)V片在正交偏光鏡間處于消光位時,插入石膏試板,視域將呈現(xiàn)： 不確定15. 在具有白干涉色的礦片上,插入云母試板,礦片的干涉色將發(fā)生如何變 ...

并指出其主要的光性特點：螢石、石英、斜長石、方解石、黑云母、橄欖石、角閃石、輝石、微斜長石 10. 什么是系統(tǒng)鑒定？ 為什么要進行系統(tǒng)鑒定？ 11. 繪圖表示一軸晶礦物垂直光軸切面的干涉圖的特點?用它如何確定一軸晶的光性符號？ 12.

（參考答案：確定軸性、確定切面方向、測定光性符號） 39、一軸晶光率體的三種主要切面上,其半徑分別為,和。 （參考答案：垂直光軸切面為 No、平行光軸切面為 Ne 和 No、斜交光軸切面為 No 和 Ne,） 40、判別下圖的軸性、光性正負和切面方向。

2、測定光性符號 Ne=Ng,Ne>No：正光性 Ne=Np,Ne

(1)確定軸性 圖1-3為一軸晶近于垂直光軸(小斜切光軸)切面的干涉圖,其特點是由偏離目鏡十字絲的黑十字和干涉色色圈組成(色圈有時不見)。轉動物臺黑十字交點即光軸出露點(C),環(huán)繞目鏡十字絲做圓周運動。圖1-3 一軸晶近⊥C切面干涉圖

32. 在標準厚度薄片中, 方解石垂直光軸切面干涉圖可見有干涉色色圈, 而石 英垂直光軸切面干涉圖中為什么見不到干涉色色圈? 33. 二軸晶垂直光軸干涉圖與一軸晶垂直光軸干涉圖有何區(qū)別? 34. 確定礦物的軸性、光性符號應選什么方向的切面? 它在 ...

晶體光學基礎知識 GIS軟件,GIS是什么,GIS軟件下載,GPS導航,高清衛(wèi)星地圖,地理信息,源碼,gis二次開發(fā)源碼 通過Nm軸在光率體的一側(Ng與Np之間)可以連續(xù)作一系列橢圓切面,在它們中間總可以找到一個半徑相當于Nm的圓切面。

晶體光學試題答案晶體光學試題答案1、要測定礦物的軸性和光性符號,應該選擇在正交偏光下干涉色的切面。（×）2、在同一巖石薄片中,同種礦物不同方向的切面上,其干涉色不同。（√）3、對于一軸晶礦物來說,其延性和光性總是一致的。

否.(1)垂直光軸 ... 首頁 范文資料 首頁 晶體光學課后習題答案 07-04 章 1、為什么一軸晶光率體所有橢圓切面上都有No ？二軸晶光率體任意切面上是否都有Nm ？在哪些切面上才有Nm ？（P15） 答：一軸晶光率體是以Ne 軸為旋轉軸的旋轉橢球體,所有斜交 ...

晶體光學試題答案 1、要測定礦物的軸性和光性符 號,應該選擇在正交偏光下干涉色的切面。 （ ） 2、在同一巖石 薄 片中,同種礦物不同方向的切面上,其干涉色不同。 （ √ ） 3、對于一軸 …